В HTML      В PDF
микроэлектроника, микросхема, транзистор, диод, микроконтроллер, память, msp430, Atmel, Maxim, LCD, hd44780, t6963, sed1335, avr, mega128
Предприятия Компоненты Документация Применения Статьи Новости

 
Пересюхтюмя


13-я Международная выставка электронных компонентов и комплектующих для электронной промышленности





Выставка Передовые Технологии Автоматизации





Главная>Обзоры по типам>Микроконтроллеры>ARM>Архитектура
Пересюхтюмя


13-я Международная выставка электронных компонентов и комплектующих для электронной промышленности





Выставка Передовые Технологии Автоматизации


AMBA методология тестирования

AMBA методология тестирования реализует механизм, который обеспечивает доступ внешнего тестера к встроенной шине AMBA, что позволяет тестеру получить возможность управления шиной и последовательно проверять каждый компонент. Такой модульный подход расширяет возможности методологии многократного использования схемотехнических решений, способствуя многократному использованию векторов тестирования. Метод параллельного доступа обеспечивает высокую скорость тестирования, в особенности кэшированных CPU, и является альтернативным методом к стратегии тестирования на основе технологии сканирования. Фирма ARM предоставляет лицензии на комплект разработки шины AMBA, называемый Micropack. В комплект входит HDL пример системы AMBA с набором HDL моделей, использованных в примере, соответствующий набор тестов и "надстройка" (wrapper), обеспечивающая организацию интерфейса ARM CPU с системной шиной AMBA.
<-- Предыдущая страница Оглавление Следующая страница -->
.