Таблица 13-1. Список выводов для отладки и тестирования
Название вывода |
Функциональное назначение |
Тип вывода |
Активный уровень |
Сброс/Тестирование |
NRST |
Сброс микроконтроллера |
Вход / Выход |
Низкий |
TST |
Выбор режима тестирования |
Вход |
Высокий |
Внутрисхемный эмулятор (ICE) и JTAG |
TCK |
Тактовый сигнал |
Вход |
|
TDI |
Вход последовательных данных |
Вход |
|
TDO |
Выход последовательных данных |
Выход |
|
TMS |
Выбор режима |
Вход |
|
JTAGSEL |
Разрешение работы JTAG |
Вход |
|
Модуль внутрисхемной отладки |
DRXD |
Прием данных для отладки |
Вход |
|
DTXD |
Передача данных для отладки |
Выход |
|