В HTML      В PDF
микроэлектроника, микросхема, транзистор, диод, микроконтроллер, память, msp430, Atmel, Maxim, LCD, hd44780, t6963, sed1335, avr, mega128
Предприятия Компоненты Документация Применения Статьи Новости

 
Пересюхтюмя


13-я Международная выставка электронных компонентов и комплектующих для электронной промышленности





Выставка Передовые Технологии Автоматизации





Главная страница > Обзоры по типам > Микроконтроллеры > ARM
Пересюхтюмя


13-я Международная выставка электронных компонентов и комплектующих для электронной промышленности





Выставка Передовые Технологии Автоматизации


13.4 Описание выводов для отладки и тестирования

Таблица 13-1. Список выводов для отладки и тестирования

Название вывода Функциональное назначение Тип вывода Активный уровень
Сброс/Тестирование
NRST Сброс микроконтроллера Вход / Выход Низкий
TST Выбор режима тестирования Вход Высокий
Внутрисхемный эмулятор (ICE) и JTAG
TCK Тактовый сигнал Вход  
TDI Вход последовательных данных Вход  
TDO Выход последовательных данных Выход  
TMS Выбор режима Вход  
JTAGSEL Разрешение работы JTAG Вход  
Модуль внутрисхемной отладки
DRXD Прием данных для отладки Вход  
DTXD Передача данных для отладки Выход  


<--Предыдущая страница Оглавление Следующая страница -->